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2026-02
星期 六
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IGBT的热循环失效是影响其寿命的重要因素,需通过深入分析失效机理并采取针对性措施延长寿命。热循环失效的主要点原因是IGBT工作时结温反复波动(如从50℃升至120℃),导致芯片、基板、焊接层等不同材料间因热膨胀系数差异产生热应力
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星期 六
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各大科技公司和研究机构纷纷加大对IGBT技术的研发投入,不断推动IGBT技术的创新和升级。从结构设计到工艺技术,再到性能优化,IGBT技术在各个方面都取得了进展。新的材料和制造工艺的应用,使得IGBT的性能得到进一步提升,如更高的
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星期 六
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截至2023年,IGBT已完成六代技术变革,每代均围绕“降损耗、提速度、缩体积”三大目标突破。初代(1988年)为平面栅(PT)型,初次在MOSFET结构中引入漏极侧PN结,通过电导调制降低通态压降,奠定IGBT的基本工作框架;第
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IGBT的诞生源于20世纪70年代功率半导体器件的技术瓶颈。当时,MOSFET虽输入阻抗高、开关速度快,但导通电阻大、通流能力有限;BJT(或GTR)虽通流能力强、导通压降低,却存在驱动电流大、易发生二次击穿的问题;门极可关断晶闸
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1.IGBT具有强大的抗电磁干扰能力、良好的抗温度变化性能以及出色的耐久性。这些优点使得IGBT可以在复杂恶劣的环境中长期稳定运行,**降低了设备的故障率和维护成本。2.在高速铁路供电系统中,面对强电磁干扰和复杂的温度变化,IGB

